色情大片无码大尺度电影_免费看美女隐私全部_被操网站_最近免费中文字幕高清片_亚洲一线二线三线品牌精华液久久久 _成人电影片_男人的天堂官网_大香蕉AV网址_人人摸人人看人人干_欧美手机在线免费黄视频_亚洲乱码国产乱码精品精_思思热免费_国产精品偷窥熟女精品视频步_丝瓜影院超级超级骚在线看_亚洲小说乱欧美另类

當(dāng)前位置:首頁  >  技術(shù)文章

電容式位移傳感器探頭精準(zhǔn)測量的“雙引擎”驅(qū)動
2025-12-13

在半導(dǎo)體晶圓加工、精密機(jī)床主軸跳動檢測、航空航天部件形變監(jiān)測等高精度制造場景中,位移測量的精度直接決定產(chǎn)品良率與設(shè)備穩(wěn)定性。Microsense作為電容式位移傳感器品牌,通過被動式與主動式兩大探頭技術(shù)路線,構(gòu)建起從亞納米級到毫米級、從靜態(tài)定...

  • 2025-11-14

    在半導(dǎo)體制造、光學(xué)薄膜研發(fā)及精密涂層檢測等領(lǐng)域,薄膜厚度與光學(xué)參數(shù)的精準(zhǔn)測量是保障產(chǎn)品質(zhì)量與性能的關(guān)鍵環(huán)節(jié)。Thetametrisis薄膜厚度測量儀(如FR-Scanner系列)憑借其高度集成的光學(xué)模塊設(shè)計(jì),成為這一領(lǐng)域的標(biāo)準(zhǔn)設(shè)備——其光學(xué)模塊不僅容納了所有核心光學(xué)部件,更通過精密協(xié)同實(shí)現(xiàn)了測量精度、穩(wěn)定性與功能擴(kuò)展性的全面突破。一、光學(xué)模塊的核心構(gòu)成:全鏈路光學(xué)部件集成Thetametrisis薄膜厚度測量儀的光學(xué)模塊是一個高度集成的“光學(xué)中樞”,內(nèi)部整合了分光計(jì)、復(fù)合光源...

  • 2025-11-03

    白光干涉儀作為精密測量領(lǐng)域的“光學(xué)顯微鏡”,憑借其納米級分辨率和非接觸式測量特性,成為半導(dǎo)體、光學(xué)加工、微機(jī)電系統(tǒng)(MEMS)等領(lǐng)域的核心檢測工具。其核心原理基于光的干涉現(xiàn)象,通過解析干涉條紋的微小變化,實(shí)現(xiàn)表面形貌的亞納米級重構(gòu)。工作原理:光程差的精密解碼白光干涉儀通過分光棱鏡將光源分為兩束相干光:一束照射被測樣品表面,另一束投射至參考鏡。兩束反射光重新匯聚后產(chǎn)生干涉,形成明暗相間的條紋。由于白光為多色光,其干涉條紋僅在零光程差(ZOPD)附近呈現(xiàn)高對比度,這一特性使儀器能...

  • 2025-10-25

    在材料科學(xué)與精密制造領(lǐng)域,ThetaMetrisis膜厚測量儀憑借其良好的測量精度和智能分析能力,成為薄膜厚度檢測的行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)。本文將詳細(xì)解析該設(shè)備從安裝到操作的全流程,揭示其精準(zhǔn)測量的科學(xué)原理。一、系統(tǒng)安裝與調(diào)試設(shè)備安裝需選擇防震臺面,確保儀器水平放置。連接電源線后,通過USB或?qū)S媒涌谂c計(jì)算機(jī)建立數(shù)據(jù)鏈路。初次使用時需進(jìn)行環(huán)境校準(zhǔn):將標(biāo)準(zhǔn)樣品置于樣品臺,通過軟件界面啟動自動校準(zhǔn)程序,系統(tǒng)會根據(jù)反射光譜特征建立基準(zhǔn)數(shù)據(jù)庫。環(huán)境控制尤為重要,實(shí)驗(yàn)室溫度應(yīng)保持20-25℃,濕度低...

  • 2025-10-11

    在半導(dǎo)體制造、光學(xué)鍍膜、新能源材料等精密工業(yè)領(lǐng)域,薄膜厚度的精準(zhǔn)控制直接決定產(chǎn)品性能。岱美儀器技術(shù)服務(wù)(上海)有限公司憑借二十余年技術(shù)積淀,構(gòu)建起覆蓋機(jī)械接觸、光學(xué)干涉、光譜反射三大技術(shù)路徑的薄膜厚度測量體系,為行業(yè)提供從實(shí)驗(yàn)室研發(fā)到生產(chǎn)線量測的全場景解決方案。1.機(jī)械接觸式測量:納米級精度的“觸覺感知”針對金屬鍍層、硬質(zhì)涂層等場景,岱美采用高精度探針式臺階儀。其核心部件為金剛石針尖探針,通過垂直位移傳感器記錄探針在膜層表面的微米級起伏。例如在半導(dǎo)體引線框架的鍍金層測量中,設(shè)...

  • 2025-10-10

    膜厚輪廓儀的多層膜結(jié)構(gòu)全譜段解析技術(shù),是當(dāng)前半導(dǎo)體、顯示及光學(xué)器件制造領(lǐng)域的關(guān)鍵突破。該技術(shù)通過單次曝光光譜分辨干涉測量法,實(shí)現(xiàn)了多層膜厚度與三維表面輪廓的同步實(shí)時測量,解決了傳統(tǒng)橢偏儀逐點(diǎn)測量效率低、白光干涉法難以分離多層反射信號的難題。其核心原理在于將像素化偏振相機(jī)(PPC)與成像光譜儀耦合,構(gòu)建了可單次獲取寬光譜范圍內(nèi)四組相移干涉圖的光學(xué)系統(tǒng)。光源采用400-800nm的鎢鹵素?zé)?,通過柯勒照明實(shí)現(xiàn)均勻照度,線性偏振器與消色差四分之一波片組合調(diào)控光束偏振狀態(tài),使樣本和參考...

共 354 條記錄,當(dāng)前 1 / 71 頁  首頁  上一頁  下一頁  末頁  跳轉(zhuǎn)到第頁